
Máy phân tích thành phần trong trang sức ElvaX – Jewelry Lab
ElvaX Jewelry Lab có mục đích chính là phân tích độ chính xác cao cho trang sức và kim loại quý như vàng, bạc, platin, … Phép đo chỉ mất vài giây. Kết quả hiện thị dưới dạng cả % và karat. Thiết bị cũng có thể dùng để phát hiện lớp phủ và các loại hợp kim không theo tiêu chuẩn.
Giới thiệu
Máy có thể được vận hành bằng phần mềm ElvaXTM trên máy tính có màn hình độ phân giải cao. Cảm biến camera CCD tích hợp giúp máy có thể theo dõi đến vị trí mẫu mục tiêu. Ống chuẩn trực tự động thay đổi vị trí cho phép lựa chọn kích thước đường kính điểm đo theo yêu cầu.
Ngoài ra, ElvaX- Jewelry Lab cũng có được tích hợp máy in, cho phép in chứng nhận phân tích chứa các thành phần hoá học, khối lượng và kể cả giá trị. Máy được tích hợp pin Li cho phép di động máy phân tích và không phụ thuộc nguồn điện, tránh sự cố mất điện dễ gây hỏng thiết bị.
Đặc tính nổi bật:
- Độ chính xác: phân tích chính xác thành phần các kim loại quý và đồ trang sức có hàm lượng lớn hơn 0.1%.
- Tốc độ: cả quá trình đo chỉ mất vài giây.
- Sự hoàn thiện: máy tính tích hợp, mức độ chính xác cao, tích hợp cả máy in và pin Li.
Thông số kỹ thuật:
Nguồn phát tia X kỹ thuật số digiX-40 | |
Điện cực anode | Vonfram (W) |
Điện thế | 40 kV |
Cường độ dòng | 200 uA |
Công suất | 4 W |
Ống chuẩn trực 5 vị trí | Thay đổi đường kính quét mẫu từ 1 đến 10 mm |
Cảm biến phát hiện tia X | |
Loại | Fast SDD (tuỳ chọn Si-PIN) |
Diện tích cảm biến | 25 mm2 (6 mm2 cho loại Si-PIN) |
Năng lượng phân giải | 140 eV (165 eV cho loại Si-PIN) tại Mn Kα |
Các bộ phận điện tử | |
DPP | Loại DAS (Dynamically Adaptive Shaping), MCA : 4096 kênh |
Thông số cơ bản | |
Máy chính | 280 х 385 х 200 mm |
Buồng phân tích | 185 x 212 x90 mm |
Khối lượng | 7 kg |
Nguồn điện | 90 – 240 V, 50/60 Hz |
Pin | 6 tiếng vận hành liên tục |
Phần mềm | Windows EC |
Thuật toán phân tích | Fundamental parameters (FPA) |
Kết nối | Truyền dữ liệu : 2 cổng USB, khe cắm thẻ nhớ microSD, cổng Ethernet |
Các kênh dữ liệu đầu vào: bàn phím, chuột |